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    <title>EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网) - NI有奖活动</title>
    <link>https://bbs.eetop.wang/forum-334-1.html</link>
    <description>Latest 20 threads of NI有奖活动</description>
    <copyright>Copyright(C) EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)</copyright>
    <generator>Discuz! Board by Comsenz Inc.</generator>
    <lastBuildDate>Sun, 07 Jun 2026 05:46:35 +0000</lastBuildDate>
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      <title>EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/</link>
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      <title>labview开发</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-898073-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[招labview和硬件开发人员，北京，有兴趣得站内联系]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>atuhappy</author>
      <pubDate>Sun, 11 Apr 2021 05:41:46 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>LabVIEW 2020有哪些应用？(欢迎索要相关资料，奖励300信元）</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-893160-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[什么是LabVIEW?LabVIEW是专为测试、测量和控制应用而设计的系统工程软件，可快速访问硬件和数据信息。

LabVIEW提供了一种图形化编程方法，可直观显示应用的各个方面，包括硬件配置、测量数据和调试。这种可视化方法可让用户轻松集成任何供应商的测量硬件，使用程序框图 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Fri, 05 Feb 2021 04:42:50 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>USB多功能IO高品质测量【NI白皮书下载】奖励信元！</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-890513-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[NI​高​性​价​比​数据​采集​设备

NI​高​性​价​比​USB​多功能​I/​O​设备​以​经济​实惠​的​价格​提供​了​高​质量​测量，​旨​在​帮助​您​基于​测量​数据​做出​重要​的​决策​和​发现。


使用​多功能​I/​O​设备​进行​基于​ ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Thu, 14 Jan 2021 01:17:05 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>应用案例：《LabVIEW应⽤于⻋辆通过噪声测试的声学波束成形》【奖励300信元】</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-890512-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[应用案例：低成本便携式车载噪声测试



挑战:
开发一款便携且价格合理的声学波束形成形，实现通过噪声测量和其他应用中的噪声源识别。
解决方案:使用32个麦克风组成的螺旋阵列、NI LabVIEW软件、NI声音和振动测量套件，以及 32通道的NI CompactDAQ系统，搭配8个NI 92 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Thu, 14 Jan 2021 01:11:59 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>《芯片功耗和性能验证》免信元下载！</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-886473-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[如今，人们对电子产品的功耗要求不断提高，因此，半导体公司争相设计低功耗、高能效的产品。为了在紧迫的市场周期内推出更有竞争力的产品，工程师需要快速测量、精准分析并正确处理功耗数据。传统台式示波器和数字万用表(DMM)等价格过于昂贵，而且很难根据pin脚或产品线 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Tue, 20 Oct 2020 07:17:02 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>《软件无线电(SDR)--无线研究用户手册》超好电子书！</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-886470-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[《无线研究用户手册》 白皮书由NI提供
内容摘要：尽管5G技术已经开始推广，但5G的研究却尚未结束。本手册中的部分内容适用于5G技术，部分则是对未来技术的展望。 所有内容都旨在展示研究人员如何使用SDR技术来为新的概念和技术建立原型，以证明其可行性，并促使我们更深 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Tue, 20 Oct 2020 06:47:20 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>《O-RAN简介》</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-884623-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[O-RAN，绝对是近两年移动通信行业最火的名词之一。
未来的无线接入网，也需要像智能手机一样，软硬件是分开的，可以基于通用的硬件平台和开放的接口开发不同的APP应用，从而激发服务创新，培育出更庞大、更具活力的产业生态。
这个无线接入网，叫O-RAN，即开放式RAN。
O ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Tue, 08 Sep 2020 13:11:20 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>电子书：《提升芯片实验室验证效率解决方案》</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-882947-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[随着半导体行业碎片、多样化应用的需求提升之际，同时也为制定化芯片带来了更多机会。如何朝着缩短产品开发周期，同时提高复杂性和集成度的方向发展，将考验着工程师团队。如果能建立有效的机制，在验证团队之间共享测量专业知识和设备以及仪器知识，将能快速突破相 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Mon, 03 Aug 2020 05:53:04 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>（获奖名单已公布）190页《测试系统构建基础知识》| 有奖下载：300信元+幸运抽奖（口罩）</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-876423-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[本期获奖名单如下：


大多数组织并不认为生产测试是最重要的，但为了防止产品在客户使用产品过程中出现重大质量问题而影响公司品牌，生产测试是必要的。然而，生产测试成本可能很高，并且常常被误解，特别是在没有简单的方法来量化高质量产品或缩短上市时间对业务的积 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>论坛管理员-1</author>
      <pubDate>Wed, 18 Mar 2020 00:26:45 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>关注NI公众号下载:5G芯片、软件无线电、半导体测试指南等资料</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-861836-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[关注【恩艾在您身边】公众号后，点击菜单栏的资料下载将可以获取芯片设计测试、5G通信等多份精品资料！
部分资料截图


参与方式：手机扫描下方二维码，关注NI公众号可下载资料

 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Wed, 26 Jun 2019 04:54:34 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>《5G半导体测试工程师指南》技术白皮书下载（奖励300信元）</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-861527-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[《5G半导体测试工程师指南》

摘要我们知道测试宽带​5G IC非常有挑战性，因而撰写了《5G半导体测试工程师指南》​来帮助您解惑。​如果您是sub-6 GHz和mmWave IC​测试工程师，​经常需要在时间、成本和质量之间进行权衡，那么本指南正是您所需的。​该指南包含了大量 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>论坛管理员-1</author>
      <pubDate>Wed, 19 Jun 2019 08:57:32 +0000</pubDate>
    </item>
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      <title>获奖名单公布：有奖下载《最大化直流测量性能实用指南》</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-848744-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[本期获奖名单如下：]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Wed, 30 Jan 2019 06:21:43 +0000</pubDate>
    </item>
    <item>
      <title>(已结束)下载《最大化直流测量性能实用指南》，赢取299元雾霾表及论坛积分！</title>
      <link>https://bbs.eetop.wang/thread-842652-1-1.html</link>
      <description><![CDATA[本期活动已结束，获奖名单已公布，请点击链接查看：
http://bbs.eetop.cn/thread-848744-1-1.html



在介绍活动之前先看一下奖品吧！
  

获得精准的直流测量结果是许多应用的常见需求，但仅仅购买高精度和高灵敏度的仪器是不够的。各种不同的误差源都会影响读数的准确 ...]]></description>
      <category>NI有奖活动</category>
      <author>jackzhang</author>
      <pubDate>Thu, 06 Dec 2018 08:32:34 +0000</pubDate>
    </item>
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