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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › DFT,在Tetramax中输出满足ATE测试需求的STIL
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楼主: 小院秋晨

[求助] DFT,在Tetramax中输出满足ATE测试需求的STIL

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发表于 2023-7-7 14:41:15 | 显示全部楼层
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z102333
发表于 2023-7-24 17:49:17 | 显示全部楼层
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