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[求助] 求一篇比较新的外文文献

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发表于 2025-5-14 18:21:15 | 显示全部楼层 |阅读模式
悬赏15资产已解决
标题： Influence of etching profile on pattern collapse in complementary metal oxide semiconductor image sensor pixel with deep trench isolation


期刊：Journal of Vacuum Science & Technology B


DOI: https://doi.org/10.1116/6.0004309

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胖虎17风发

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发表于 2025-5-14 18:21:16 | 显示全部楼层
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033203_1_6.0004309.pdf

2.1 MB, 下载次数: 9, 下载积分: 资产 -1 信元, 下载支出 1 信元

点评

hkmonster
确实是这个文章，非常感谢！  发表于 2025-5-15 09:22
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