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第1讲 VLSI测试技术导论.pdf
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第3讲 可测试性设计(2).pdf
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第4讲 逻辑与故障模拟.pdf
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第5讲 测试生成(1).pdf
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第7讲 逻辑自测试(1).pdf
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第10讲 逻辑电路故障诊断.pdf
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第11讲 存储器测试与BIST.pdf
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第12讲 存储器诊断与BISR.pdf
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第13讲 边界扫描与SOC测试.pdf
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