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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › 后端设计 › 后端资料区 › 1450.6-2005 IEEE Standard Test Interface Language (S ...
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楼主: wrient

[资料] 1450.6-2005 IEEE Standard Test Interface Language (STIL)

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发表于 2011-1-10 09:22:32 | 显示全部楼层
很好，顶一下
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crazy4u
发表于 2011-2-28 09:52:44 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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fu2006
发表于 2011-2-28 22:41:07 | 显示全部楼层
STIL的作用看来还是蛮重要的，这个要顶下！
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发表于 2011-4-25 08:58:51 | 显示全部楼层
good document
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发表于 2011-5-16 17:53:51 | 显示全部楼层
good.
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发表于 2011-5-24 04:22:39 | 显示全部楼层
thanks
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发表于 2011-8-28 08:01:55 | 显示全部楼层
good.
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发表于 2011-10-11 17:00:18 | 显示全部楼层
好东西啊！！！
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cherry00
发表于 2011-10-30 08:59:26 | 显示全部楼层
good, thanks.
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发表于 2011-11-6 09:17:24 | 显示全部楼层
好東西，但可以到圖書館去找。
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