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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 数字系统测试和可测试性设计_（美）
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楼主: zylxzxcyz

[资料] 数字系统测试和可测试性设计_（美）

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发表于 2024-10-29 10:40:24 | 显示全部楼层
受益颇多，详尽深度，内容全面专业，学习下
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hclin
发表于 2024-12-8 00:37:55 | 显示全部楼层
值得收藏，謝謝分享
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发表于 2024-12-14 09:12:09 | 显示全部楼层
DFT必看的一本书，谢谢
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发表于 2024-12-14 09:23:28 | 显示全部楼层
:lol:lol感谢感谢
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发表于 2025-1-20 17:44:09 | 显示全部楼层
谢谢
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发表于 2025-1-21 11:15:50 | 显示全部楼层
感谢
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发表于 2025-2-18 16:39:31 | 显示全部楼层
多谢  学习学习
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发表于 2025-2-19 09:43:25 | 显示全部楼层
感谢分享
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发表于 2025-3-10 10:08:00 | 显示全部楼层
谢谢分享
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发表于 2025-4-16 14:15:24 | 显示全部楼层
感谢分享
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