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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2008-4-3 10:37:36 | 显示全部楼层

thx a lot

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发表于 2008-4-3 10:38:46 | 显示全部楼层

thx a lot

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发表于 2008-4-10 08:32:41 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2008-4-10 08:34:40 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2008-4-22 17:09:56 | 显示全部楼层

谢谢，好东西！！！

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发表于 2008-4-22 23:47:11 | 显示全部楼层

yeah yeah

good stuff.

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发表于 2008-4-23 14:52:22 | 显示全部楼层

没钱下载了。

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发表于 2008-4-23 21:58:40 | 显示全部楼层

Does it belong to practical method

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发表于 2008-4-28 00:43:07 | 显示全部楼层

非常感谢！！

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发表于 2008-5-7 20:41:33 | 显示全部楼层

hao dong xia

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