基于ATE的IC测试原理方法及故障分析

ghostmlj · 发表于 2014-11-10 14:21:03

支持好东西

javens_zhao · 发表于 2015-2-6 15:47:11

好东西，刚经历了scan高温下pass，normal下fail的case

yansuanxiti · 发表于 2015-2-7 09:11:19

看看了，希望有用

ICMTK · 发表于 2015-2-10 10:06:44

下来看看看看

yuxinsky521 · 发表于 2015-3-1 09:34:54

下来看看谢谢楼主分享

sanljd0116 · 发表于 2015-3-4 13:45:16

学习学习

jimcmwang · 发表于 2015-6-24 11:20:11

基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析.pdf (392.22 KB)

yjwerxx · 发表于 2015-6-24 18:03:39

谢谢分享。。。

yjwerxx · 发表于 2015-6-24 18:11:27

谢谢楼主分享

datouyu451 · 发表于 2015-11-9 23:03:53

中文资料seesee

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基于ATE的IC测试原理 方法及故障分析