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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的 ...
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[资料] 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的

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发表于 2012-2-22 11:21:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

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qptom
发表于 2012-2-22 20:44:35 | 显示全部楼层
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chin244
发表于 2012-2-23 13:20:14 | 显示全部楼层
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发表于 2012-2-27 23:36:02 | 显示全部楼层
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gzlin
发表于 2012-2-28 21:41:17 | 显示全部楼层
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发表于 2012-5-4 16:20:03 | 显示全部楼层
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发表于 2012-6-26 15:59:39 | 显示全部楼层
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发表于 2012-6-27 11:02:46 | 显示全部楼层
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发表于 2012-7-6 11:28:57 | 显示全部楼层
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