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[求助] DC插scan的时候的几个问题

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发表于 2013-1-31 11:03:20 | 显示全部楼层 |阅读模式

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对于ram或者rom,DC会报ram和rom是blackbox,Q端violation,需要怎么处理?
对于latch也会报错误,需要怎么处理?

谢谢~~
发表于 2013-1-31 11:15:32 | 显示全部楼层
通常你可以用bypass logic去旁路这些输入和输出pin去达到可测可控;如果有Tmax的Memory模型,也可以直接控制Memory;另外还有些memory本身带有扫描输入输出,可以对它直接串链,
Latch是发生在时钟路径还是数据路径。如果是时钟,用ICG Cell;如果是数据,你可以把EN 接到ScanMode上,用了Latch去锁存数据你的测试覆盖率会很低。
希望对你有所帮忙
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 楼主| 发表于 2013-1-31 14:04:28 | 显示全部楼层
回复 2# deodar_li


    谢谢你的回答!

    怎么bypass logic?

     我的clock gate module是我自己用latch搭建的,因为lib里面没有直接的ckock gating cell,

     我该怎么处理?
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 楼主| 发表于 2013-1-31 14:04:33 | 显示全部楼层
回复 2# deodar_li


    谢谢你的回答!

    怎么bypass logic?

     我的clock gate module是我自己用latch搭建的,因为lib里面没有直接的ckock gating cell,

     我该怎么处理?
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