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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

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楼主: xhui

Jtag Boundary-Scan Test - A Practical Approach

发表于 2010-11-14 07:18:44 | 显示全部楼层

回复 1# xhui

thanks for sharing.

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发表于 2010-11-18 08:46:45 | 显示全部楼层

good reference for DFT

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发表于 2010-11-24 09:57:14 | 显示全部楼层

Thanks.

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发表于 2010-11-24 12:15:00 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2010-11-24 13:56:02 | 显示全部楼层

thanks

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发表于 2010-12-12 00:42:44 | 显示全部楼层

:)

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发表于 2010-12-15 12:08:04 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2010-12-16 12:40:18 | 显示全部楼层

good share

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发表于 2010-12-21 16:41:20 | 显示全部楼层

XIELEA

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发表于 2010-12-21 16:43:28 | 显示全部楼层

谢了啊

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