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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 讨论区 › 测试中burn in和HTOL有什么区别么？
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[求助] 测试中burn in和HTOL有什么区别么？

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发表于 2020-9-30 11:14:13 | 显示全部楼层 |阅读模式
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发表于 2020-10-14 22:57:48 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2020-10-15 13:52:11 | 显示全部楼层
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发表于 2021-1-27 11:46:07 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2021-1-27 13:50:14 | 显示全部楼层
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发表于 2021-4-13 00:13:16 | 显示全部楼层
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发表于 2022-1-2 18:58:47 | 显示全部楼层
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发表于 2022-1-14 08:59:53 | 显示全部楼层
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发表于 2023-1-18 16:50:50 | 显示全部楼层
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dmf336
发表于 2023-2-16 11:25:06 | 显示全部楼层
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