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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的 ...
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楼主: zfeng1121

[资料] 分享一本好书，关于数字芯片测试和可测性设计的

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redp
发表于 2012-7-27 10:52:58 | 显示全部楼层
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Syn2012
发表于 2012-7-28 20:10:26 | 显示全部楼层
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发表于 2012-7-28 20:11:11 | 显示全部楼层
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542147
发表于 2012-12-11 22:43:54 | 显示全部楼层
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发表于 2012-12-13 12:22:39 | 显示全部楼层
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ysfkpp
发表于 2013-7-22 20:55:47 | 显示全部楼层
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发表于 2013-7-23 09:30:35 | 显示全部楼层
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发表于 2013-9-1 19:33:06 | 显示全部楼层
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发表于 2013-9-1 19:34:11 | 显示全部楼层
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发表于 2013-9-1 19:35:26 | 显示全部楼层
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